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ITC-Asia

全球最具指標性的專業測試技術展會 首度移師亞洲

ITC (International Test Conference) 是全球最具指標性的專業測試技術展會,匯集全球IC設計與測試的專家,探討與分析最新的測試技術趨勢,主題聚焦於改善製程及設計的相關軟硬體,包含用於設計驗證、測試、故障分析的設備、零組件、系統與應用軟體等。因應物聯網、雲端運算、車用電子等新興應用崛起帶來更複雜的製程與系統整合需求,2017年ITC將首度移師亞洲與SEMICON Taiwan合作,不僅能完整串連半導體前段設計與後段封測的供應鏈,並且促進更多的交流合作、創造更多潛在商機。

 

第一屆ITC-Asia (國際測試會議暨展覽會)由國際電機電子工程師學會(IEEE)、Test Technology Technical Council (TTTC)、IEEE電子設計自動化委員會(CEDA)、國立清華大學、國立成功大學、美國加州大學聖塔芭芭拉分校 以及SEMI共同主辦,分為會議及展覽兩大部分:

會議

隨著物聯網、車用電子、5G、虛擬實境/擴增實境(VR/AR)、智慧醫療等新興應用崛起,多元標準以及技術的結合,使得半導體測試的複雜度及困難度大大提升。ITC今年首度移師亞洲舉行,主題演講邀請多位重量級講師,針對硬體測試安全、電子系統與半導體系統的整合、改變半導體測試的七大趨勢、新型記憶體測試等主題,分享最新的技術發展趨勢。機會難得,不容錯過!

 

 

展覽

因應物聯網、雲端運送、車用電子等新興應用崛起帶來更複雜的製程與系統整合的需求,ITC-Asia 首度與SEMICON Taiwan 合作同期展出,能完整串聯前段設計與後段封測的供應鏈,促進更多合作交流,創造更多商機!

 

 

2017 ITC-Asia 論壇一覽表

早鳥專屬優惠只到8/11

 

Sept. 13 - Wednesday

Sept. 14 - Thursday

Sept. 15 - Friday

Registration

 

 

 

9:00-10:40 

Opening & Keynote Session (I)

Hardware Security - Verification, Test, and Defense Mechanisms

Convergence of Electronic and Semiconductor Systems, and Its Impact on Testing Technology

9:00-10:30

Keynote Session (II)

Seven Major Trends that are Changing how we Test ICs

Test Emerging Memories

10:40-11:00 Coffee Break

10:30-10:50 Coffee Break

11:00-12:20 Plenary Panel

Heterogeneous Integration–Design and Test Challenges

10:50-12:05  Sessions A3, B3, C3

12:20-13:30 Lunch Break

12:05-13:30 Lunch Break

13:30-16:50

Half-Day Tutorials

13:30-14:45 Sessions A1, B1, C1

13:30-14:45 Sessions A4, B4, C4

14:45-15:00 Coffee Break

14:45-15:00 Coffee Break

15:00-16:40 Sessions A2, B2, C2

15:00-16:40 Sessions A5, B5, C5

■ 主辦單位保留議程更改之權利。

■ 論壇演講內容皆以英文為主。

■ 論壇全程禁止錄音/攝錄影。

更多關於ITC-Asia會議詳情,請造訪ITC-Asia官方網站瀏覽。

 

ITC-Asia 2017 參展廠商 

攤位號碼

參展廠商

1508

明试国际(私人)有限公司

1512

EDA Industries S.p.a.

   

1514

PDF Solutions

瑞勝捷科技股份有限公司

Test Systems Strategies, Inc.

   

1518

TSE Co., Ltd.

1522

台灣新思科技股份有限公司

1526

S.E.R. Corporation

1528

OKins Electronics

1608

ISC Co., Ltd

1612

Tulip Co., Ltd.

1613

晶王股份有限公司

1616

致茂電子股份有限公司

1623

日本電子材料(株)

1627

Cloud Testing Service, Inc.

1629

精研微科技股份有限公司

1708

鼎捷冷卻科技股份有限公司

2010

吉而特科技有限公司

2012

Tesec Corporation

2014

Aehr Test Systems

2015

深圳凯智通微电子技术有限公司

2017

Test Insight

 


聯絡人 

SEMI Taiwan

李小姐 Ms Elaine Lee

TEL: 886.3.560.1777 EXT.107

Email: elee@semi.org

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