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Chinese

ITC-Asia 國際測試會議第二天

 日期:

 2017 年 9 月 14 日 星期四

時間:

 09:00 - 16:40

地點:

台北南港展覽館5樓 504abc

主題:

 

 

 論壇主席:

 

 

 論壇主持人:

 

 

 論壇簡介:

 

 

 

主辦單位:

 

 

   

 

協辦單位:

 

 

   

 

贊助單位:

         

議程表

議程表

時間

講題/講者

09:00 - 10:40

 Opening & Keynote Session (I)

 Hardware Security - Verification, Test, and Defense Mechanisms

 Prof. Tim Cheng, Dean of Engineering and Chair Professor of ECE and CSE, Hong Kong U. of Science and Technology

 

 Convergence of Electronic and Semiconductor Systems, and Its Impact on Testing Technology

 Ishih Tseng, Chroma ATE Inc.

10:40 - 11:00

 中場休息

11:00 - 12:20

 Plenary Panel

 Heterogeneous Integration – Design and Test Challenges

 Panelists: (Inviting)

  • Charles Chen, MediaTek

  • William Chen or Ou Li, ASE

  • Erik Jan Marinissen, IMEC

  • Douglas C.H. Yu, TSMC

  • Robert W. C. Lo, ITRI

  • Tim Cheng, HKUST

12:20 - 13:30

 中午休息

13:30 - 14:45

 Corporate Session (I)

 The Trend of Testing on IoT Ics

 George Chang

 Topic TBD 

 Daniel Chen

 Improved Test Quality and Efficiency Via Better Link of Design and Test

 Meir Gellis

14:45 - 15:00

 中場休息

15:00 - 16:40

 Corporate Session (II)

■ 主辦單位保留議程更改之權利。

■ 論壇演講內容皆以英文為主。

■ 論壇全程禁止錄音/攝錄影。

 

論壇費用 (個人)

會員價

原價 (8/6 - 現場)

       

     

 


聯絡人

SEMI Taiwan

王竹君小姐

電話:886.3.560.1777 分機 503

Email:gwang@semi.org

 

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