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Chinese

ITC-Asia 國際測試會議第一天

日期:

 2017 年 9 月 13 日

時間:

 13:30 - 16:50 

地點:

 台北南港展覽館5樓 504abc

主題:

 

 

 論壇主席:

 

 

 論壇主持人:

 

 

 論壇簡介:

 

 

 

主辦單位:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

贊助單位:

               

議程表

議程表

時間

講題/講者

13:30 - 16:50

 Automotive Test Strategies

 Yervant Zorian, President, Synopsys America

 

 Testing of 2.5D- and 3D-Stacked Integrated Circuits

 Dr. Erik Jan Marinissen, Principal Scientist, IMEC

 

 Industrial Advancements in Diagnosis-Driven Yield Analysis

 Yu Huang, Wu-Yang, Chief Scientist and the Director of Advanced Test Research, Mentor, A Siemens Business Corp.

 Wu-Tung Cheng, Principal Engineer, Mentor, A Siemens Business Corp.

■ 主辦單位保留議程更改之權利。

■ 論壇演講內容皆以英文為主。

■ 論壇全程禁止錄音/攝錄影。

 

論壇費用 (個人)

會員價

原價 (8/6 - 現場)

       

     

 

                

 

 


聯絡人

SEMI Taiwan

王竹君小姐

電話:886.3.560.1777 分機 503

Email:gwang@semi.org

 

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