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Chinese

劉家成 / Dr. Kia Low

劉家成 / Dr. Kia Low

博士

Ph.D.

美商儀析科技股份有限公司台灣分公司

ECI Technology

演講日期時間

Date & Time

 2017年 9月 13日 14:00 - 14:20

 14:00 - 14:20 September 13, 2017 

演講地點

Venue

 台北南港展覽館4樓#1000

 #1000, 4F, TWTC Nangang Exhibition Hall

演講題目

Topics

 未來化學監測介紹和應用

 Next Generation Chemical Monitoring for wet etch and clean applications

 

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