半導體先進檢測與計量國際論壇
2025-09-12 | 上午 8:30 - 下午 4:20
日期: 2025年9月12日 (星期五)
時間: 08:30- 16:20 (Registration: 08:30-09:00)
地點: 南港展覽館2館 7樓-701F
主題: Measuring Innovation, Powering AI.
Advised by: SEMI Inspection and Metrology Committee
Forum Chair: Dr. I-Shih Tseng｜President｜Chroma ATE
主辦單位:
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贊助:
*主辦單位保留調整或更改活動議程之權利，最終議程以現場安排為準。
票價(含稅):
團報優惠 (使用期限至8/20): 3位以上團體報名或報名3場以上論壇享85折優惠。
Featured Speakers
Agenda
Smart Automation: Accelerating S/TEM defect analysis and metrology efficiency
蔡承廷
美商飛昱科技股份有限公司台灣分公司
上午 9:10 - 上午 9:50
Development of new workflows to address metrology and Failure analysis challenges at macroscale, microscale and nanoscale
Mr. Herve Mace
TESCAN
上午 9:50 - 上午 10:30
White-Light Interferometry Integration with Electromagnetic Simulation and Digital Light Field Control for Advanced Packaging
伍國瑋博士
致茂電子股份有限公司
上午 10:40 - 上午 11:20
Innovative Solutions for TGV Metrology: Advanced Visualization, 3D Analysis, and Metrology-Driven Yield Management
Dr. Mohit Sharma
OmniMeasure Technology Inc.
上午 11:20 - 下午 12:00
Advance Package FA with 3D X-ray to Laser FIB correlative workflow
林坤興
卡爾蔡司股份有限公司
下午 1:30 - 下午 2:10
Progress of on-line monitoring system for advanced process of semiconductor industry
賴慶智博士
Atlas Technology Corp.
下午 2:10 - 下午 2:50
Nanoparticle metrology for advanced semiconductor
林芳新博士
Industrial Technology Research Institute
下午 3:40 - 下午 4:20